Danh mục sản phẩm
hiệu chuẩn
DWFritz ra mắt nền tảng đo lường quay vòng
DWFritz Metrology đã công bố ra mắt Nền tảng đo lường quay ZeroTouch (ZTR). DWFritz Metrology là một công ty con thuộc sở hữu hoàn toàn của DWFritz Automation, mà Tập đoàn Sandvik gần đây đã mua lại. ZeroTouch ZTR là một nền tảng đo lường và kiểm tra tốc độ cao, không tiếp xúc, ở cấp độ micron, được …
Kiểm tra tự động – Liên kết còn thiếu cho tự động hóa đầu cuối
Tự động hóa đầu cuối là ý tưởng cho rằng mọi quy trình trên dây chuyền sản xuất đều được tự động hóa bằng nhiều loại máy móc và quy trình rô bốt. Mặc dù khái niệm này khá phổ biến khi nói đến máy móc sản xuất, nhưng các hoạt động phức tạp hơn và định hướng chi tiết hơn như kiểm tra chất lượng đặt ra …
Giải pháp kiểm tra đảm bảo chất lượng màn hình kính từ đầu đến cuối
Bạn đã nhìn vào một màn hình ngày hôm nay? Rất có thể bạn sẽ trả lời câu hỏi này là 'CÓ' – xét cho cùng, màn hình và màn hình cảm ứng ở xung quanh chúng ta, cho dù trên điện thoại thông minh, máy pha cà phê, máy ATM, trong ô tô hay tại nơi làm việc của chúng ta. Các công nghệ cho màn hình mỏng hơn …
Thị giác máy để kiểm soát chất lượng nội tuyến dựa trên CAD
Kiểm soát chất lượng dựa trên thị giác máy tính đã trở thành một phương pháp mạnh mẽ và hiệu quả, đặc biệt đối với các quy trình sản xuất nội tuyến phức tạp. Do đó, thường phải giải quyết các vấn đề như “ Phần 'X' có được đặt chính xác như được chỉ định trong CAD không?” hoặc “Tất cả các thành phần …
Ra mắt loại kính hiển vi lực nguyên tử mới mang tính đột phá
Park Systems, nhà sản xuất Kính hiển vi Lực nguyên tử (AFM) đã công bố Park FX40, một kính hiển vi lực nguyên tử tự trị mang tính đột phá, được trang bị robot cải tiến, tính năng học tập thông minh, cơ chế an toàn, phần mềm dựa trên AI và các tiện ích bổ sung chuyên dụng. Kính hiển vi lực nguyên tử …
Hệ thống đo lường độ chính xác cao cho phép tích hợp không đồng nhất 3D
EV Group (EVG), nhà cung cấp thiết bị in thạch bản và liên kết wafer cho thị trường MEMS, công nghệ nano và chất bán dẫn, đã tiết lộ hệ thống đo lường tự động EVG 40 NT2, cung cấp phép đo lớp phủ và kích thước tới hạn (CD) cho wafer-to-wafer (W2W) ), liên kết die-to-wafer (D2W) và die-to-die (D2D) …
Quan hệ đối tác mới kích hoạt các công nghệ cốt lõi cho kính hiển vi kỹ thuật số
Peak Metrology, nhà sản xuất thiết bị vốn đo lường bề mặt, đã công bố quan hệ đối tác với IDC MicroInspection . Sự hợp tác này kết hợp khả năng của thiết bị và phần cứng của Peak Metrology với kiến thức quy trình và phần mềm ứng dụng của IDC MicroInspection. Giờ đây, khách hàng sử dụng kính hiển …