Phần mềm đo lường mới nhất mang lại khả năng kiểm soát chất lượng hiệu quả hơn

Phiên bản mới nhất của phần mềm đo đa năng ZEISS tập trung vào hình học tiêu chuẩn. ZEISS CALYPSO 2022 đặc biệt tăng hiệu suất thu thập dữ liệu cũng như đánh giá kết quả.

Günter Haas, Giám đốc Sản phẩm Phần mềm CALYPSO nhấn mạnh : “Khách hàng không thực sự muốn viết các chương trình đo lường, họ muốn đo lường các bộ phận . ZEISS từ lâu đã hiểu điều này và cũng hiểu máy đo tọa độ là thiết bị được tích hợp vào quy trình sản xuất. ZEISS không ngừng cải thiện hiệu suất của các giải pháp của mình để chúng không trở thành nút cổ chai trong việc đảm bảo chất lượng mặc dù chu kỳ sản xuất ngày càng tăng. CNTT đóng một vai trò quan trọng trong việc này, vì phiên bản mới của ZEISS CALYPSO 2022 với vô số tính năng mới và tối ưu hóa đã chứng minh rõ ràng.

Tạo chương trình đo lường từ dữ liệu CAD

Các chương trình đo lường có thể được tạo tự động bằng cách sử dụng thông tin sản phẩm (PMI) được tích hợp trong dữ liệu CAD. ZEISS CALYPSO 2022 cung cấp cho người dùng nhiều chức năng và cải tiến mới để tạo tự động các chương trình đo hoàn chỉnh. Với bản phát hành mới, các vùng dung sai riêng biệt hoặc kết hợp được nhận dạng và đánh giá tương ứng được tạo tự động.

Nếu các phần tử hình học bị lỗi được gắn vào PMI trong mô hình CAD, bản phát hành mới sẽ tự động tạo đặc tính kiểm tra mà không có phần tử đo, do đó tạo ra một kế hoạch kiểm tra hoàn chỉnh và không bị gián đoạn.

Sau đó, người dùng có thể phân tích các chỉ dẫn có thể có trong nhật ký công việc. Đối với các thông số kỹ thuật PMI trước đây yêu cầu nhập thủ công, giờ đây nó đã bị loại bỏ. Với phiên bản mới, quá trình tạo PMI sẽ tự động chạy.

Để rõ ràng hơn, các nhóm đặc tính kiểm tra được tạo tự động với bản phát hành mới. Điều này có nghĩa là các nhóm đặc tính kiểm tra CALYPSO được tạo tự động từ ‘chế độ xem CAD’ của hệ thống CAD.

Chức năng quang học mới để đo nhanh hơn:

Vì công nghệ đo tọa độ từ lâu đã được bổ sung bằng các phương pháp đo quang học để thu thập thông tin quan trọng nhằm cải tiến quy trình và sản phẩm, ZEISS CALYPSO 2022 cũng mang đến nhiều cải tiến và phát triển mới về mặt quang học.

Ví dụ: phiên bản mới nhất của phần mềm đo lường toàn cầu hiện cũng hỗ trợ ZEISS O-DETECT mới. Điều này có nghĩa là các kế hoạch kiểm tra từ các CMM khác – đặc biệt là từ ZEISS O-INSPECT – giờ đây cũng có thể được chạy trên thiết bị. Điều này có nghĩa là người dùng ZEISS O-DETECT có quyền truy cập vào tất cả các đánh giá báo cáo và chức năng CALYPSO như PCM, đường cong hoặc tạo kế hoạch kiểm tra với PMI.

Theo Haas, tính năng sửa méo quang học để tăng độ chính xác của hệ thống quang học cũng sẽ ‘kích thích người dùng’ vì nó làm tăng khả năng sửa méo quang học. Sự gia tăng đáng kể về độ chính xác đặc biệt đáng chú ý ở các khu vực ngoại vi. Việc sử dụng các độ phóng đại nhỏ làm tăng ‘trường nhìn’. Nhiều yếu tố hình học có thể được ghi lại trong ảnh cùng một lúc. Tùy thuộc vào nhiệm vụ đo lường và dung sai yêu cầu, điều này làm giảm số lượng hình ảnh đo lường cần thiết và đồng thời tiết kiệm thời gian đo lường.  Theo Haas , tùy thuộc vào nhiệm vụ đo lường và dung sai cần thiết, người dùng có thể “ giảm tới 50% thời gian đo lường của họ với điều này” .

Phân tích lỗi tự động

Các hệ thống CMM, đặc biệt là hệ thống quang học, ngày càng nhanh hơn. Ví dụ, ngày nay, ZEISS CALYPSO có thể dễ dàng đo 1000 lỗ trong mười phút. Tuy nhiên, việc đánh giá thủ công các nhật ký đo lường được sử dụng để tiêu tốn nhiều thời gian hơn. Với phiên bản mới của ZEISS CALYPSO, các đặc điểm kiểm tra có khuyết tật được phát hiện và thông tin chi tiết đầy đủ được tự động hiển thị trong báo cáo đo lường.

Khái niệm đặc tính kiểm tra ZEISS CALYPSO hiện cũng đã được tích hợp vào phân tích lỗi tự động trong Báo cáo ZEISS PiWeb. Điều này có nghĩa là tất cả các đặc điểm ‘ngoài dung sai’ hiện được tự động hiển thị trong chế độ xem CAD tương tác. Điều này có nghĩa là người dùng không còn phải vất vả tìm kiếm các lỗi trong nhật ký. Điều này giúp tiết kiệm thời gian và cũng giảm nguy cơ bỏ qua các tính năng vượt quá khả năng chịu đựng.

Để biết thêm thông tin: www.zeiss.com/metrology

Tags: , , , , , , , ,