NIR 검사용 CM10_NIR 현미경

 

NIR MicroscopeNIR Microscope

개요

NIR 검사용 CM10_NIR 현미경

– 근적외선 관찰용 소형 광학계

– 실리콘 Wafer 투과 관찰에 적합
– 대응파장: 900nm ~ 1200nm

특징

– NIR 파장(900nm ~ 1200nm) 대응가능한 소형낙사현미경
– Nikon 대물렌즈 (NIR20x, NIR50x), NIR용 InGaAs 카메라 조합관찰
– 전동/수동 Revolver 적용 가능
– 2/3인치 Camera대응
– 6”~12” Stage 장착 가능

1. 관찰원리

 

2. NIR Sample Image

 

스펙

카탈로그

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