Danh mục sản phẩm
BW-Series
개요
White Light Interferometric Microscope Systems
Nikon 백색간섭 현미경 시스템
평균화 또는 필터링 프로세스 없이 매끄러운
표면의 1pm Height Resolution
측정을 실현광범위한 배율에서 동일한 높이 분해능으로
측정을 활성화 측정 모드나 광학 필터를 변경없이,
매끄러운 표면과 거친 표면 측정가능
전체 초점 영상과 표면 높이 영상 캡처 가능
특징
FVWLI < Focus Variation with White Light Interferometry >초점합성 방식
Traceability
BW S Series / BW D Series
초평면 Sample 측정 사례
SiC 연마 Wafer Sample 측정 사례
Graphene Sample 형성 평가 사례
세라믹 범프 높이 측정 및 액체 표면 측정 사례
Glass기판 위의 크롬 패턴 측정 사례
스펙
카탈로그
BW-Series Brochure
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