Hệ thống đo lường quang học 3D diện tích lớn

Sensofar Metrology đã công bố phát hành công cụ đo lường tiếp theo cho các khu vực rộng lớn. S wide là hệ thống đo lường diện tích lớn quang học 3D không tiếp xúc hiệu suất cao được thiết kế để đo ở cấp độ vi mô, với khả năng kiểm tra và phân tích tiên tiến.

S wide là giải pháp chuyên dụng được thiết kế để đo nhanh diện tích mẫu lớn lên tới 300 x 300 mm (11,8 x 11,8 in). Nó cung cấp tất cả các lợi ích của một kính hiển vi kỹ thuật số được tích hợp vào một dụng cụ đo có độ phân giải cao. Cực kỳ dễ sử dụng với việc thu thập dữ liệu bằng một nút bấm.

Các tính năng quan trọng nhất là:

• Đo chiều cao một lần lên tới 40 mm mà không cần quét Z.
• Độ lặp lại chiều cao sub-micron trên toàn bộ diện tích mở rộng.
• Độ lệch hình dạng so với các mô hình CAD 3D (cung cấp phép đo chênh lệch hình học và dung sai).
• Các thấu kính viễn tâm hai chiều với độ méo trường rất thấp mang lại phép đo chính xác.

Sensofar S wide lý tưởng cho mọi môi trường phòng thí nghiệm, không có giới hạn và là cảm biến đo lường trong khu vực sản xuất. S wide được sản xuất để cung cấp các phép đo chính xác và có thể theo dõi. Các hệ thống được hiệu chuẩn và có thể truy nguyên theo tiêu chuẩn ISO 25178 và VDI2634-2.

S wide dành cho các giải pháp sau:

• sản xuất tiên tiến
• Điện tử dân dụng
• Các thiết bị y tế
• khuôn quang học
• ngành công nghiệp đồng hồ
• Khảo cổ học & Cổ sinh vật học

S wide đi kèm với phần mềm SensoSCAN điều khiển hệ thống với giao diện rõ ràng, trực quan và thân thiện với người dùng và được kết hợp với phần mềm SensoVIEW mới cho nhiều tác vụ phân tích. Các mô-đun phân tích tự động đã được tạo để giúp mọi quy trình QC dễ dàng hơn với SensoPRO.

Để biết thêm thông tin: www.sensofar.com