Ra mắt giải pháp kiểm tra 360° cho quá trình sản xuất pin

ISRA VISION đã giới thiệu PouchSTAR, một hệ thống kiểm tra mới dành cho pin dạng túi. Hệ thống này là một bổ sung mới cho dòng sản phẩm của công ty để sử dụng trong sản xuất pin lithium-ion. Với sự mở rộng này, ISRA VISION hiện cho phép các nhà sản xuất giám sát mọi khía cạnh của toàn bộ quy trình sản xuất pin, giúp họ xác định các vấn đề và lỗi ở giai đoạn đầu, cho phép họ đáp ứng ngay cả những yêu cầu chất lượng nghiêm ngặt nhất. Các tế bào pin hiệu suất cao có ba kiểu dáng khác nhau là tế bào túi, tế bào hình trụ và tế bào hình lăng trụ, tất cả đều được đóng gói dày đặc trong các cụm pin dành cho xe điện.

Pin lithium-ion cho xe điện phải đáp ứng các yêu cầu đặc biệt cao về an toàn và hiệu suất. Do đó, điều quan trọng là phải giám sát toàn bộ quy trình sản xuất pin để đảm bảo những phương tiện này có nguồn điện đáng tin cậy và có thể chạy an toàn. Vì lý do này, ISRA VISION đã phát triển một giải pháp chìa khóa trao tay sáng tạo để kiểm tra trực tuyến và ngoại tuyến các tế bào pin dạng túi, cho phép giám sát toàn diện các quy trình và chất lượng sản phẩm.

PouchSTAR phát hiện các khuyết tật bề mặt 2D và 3D như vết lõm, vết sưng, vết trầy xước, nếp nhăn và nhiễm bẩn do chất điện phân gây ra trên các tế bào pin lithium-ion. Hệ thống cũng phát hiện các khuyết tật ở các góc và cạnh một cách đáng tin cậy.

PouchSTAR bao gồm công nghệ chiếu sáng LED mới nhất và camera ma trận có độ phân giải cao do ISRA VISION phát triển. Phần cứng hiệu suất cao bổ sung cho gói phần mềm mở rộng để phân loại và phân tích dữ liệu được chụp trực quan. Hiệu chỉnh máy ảnh tự động và giao diện tốc độ cao GigE Vision tích hợp giúp PouchSTAR cực kỳ dễ cài đặt và tích hợp vào một nhà máy thông minh được nối mạng hoàn chỉnh ở tốc độ sản xuất tối đa.

Được tích hợp trực tiếp vào dây chuyền sản xuất, hệ thống tạo điều kiện thuận lợi cho việc kiểm tra 360° các tế bào túi. Nó thường được sử dụng trong quá trình lắp ráp tế bào và sau khi khử khí để phát hiện các khuyết tật bề mặt 2D và 3D chẳng hạn như vết lõm, vết sưng, vết trầy xước, nếp nhăn và ô nhiễm do chất điện phân gây ra. Hệ thống cũng phát hiện các khuyết tật ở các góc và cạnh một cách đáng tin cậy. PouchSTAR cũng kiểm tra hình dạng, kích thước và đường nối kín của các ô.

Một tính năng khác của hệ thống kiểm tra PouchSTAR mới là khả năng tự động kiểm tra và ghi lại mã vạch và mã dữ liệu bằng công cụ OCR tích hợp. Điều này đảm bảo rằng chỉ những tế bào hoàn hảo mới được cung cấp cho khách hàng, giúp tránh thu hồi tốn kém. Nhờ tính năng theo dõi và theo dõi này, nếu xảy ra sự cố, chất lượng sản phẩm có thể được truy ngược lại để tối ưu hóa quy trình sản xuất.

Toàn bộ giải pháp kiểm tra quy trình sản xuất pin

ISRA VISION cung cấp cho các nhà sản xuất pin lithium-ion các giải pháp kiểm tra khác ngoài PouchSTAR mới. Một ví dụ là một biến thể của sê-ri SMASH nổi tiếng được thiết kế đặc biệt để kiểm tra tự động lớp phủ điện cực, cũng như lá phân tách và lớp phủ của chúng (ví dụ: PVDF). Hơn 1000 đơn vị của giải pháp tất cả trong một tiên tiến này đã được cài đặt trên toàn thế giới.

Giải pháp cung cấp thông tin theo thời gian thực về chất lượng sản phẩm và cho biết mức độ đáp ứng các thông số kỹ thuật có liên quan. Do đó, nó cho phép phát hiện và phân loại các khiếm khuyết tiềm ẩn về vật liệu và sản phẩm có thể ảnh hưởng đến chất lượng của sản phẩm cuối cùng ngay từ giai đoạn sơ bộ của quá trình sản xuất pin. Đặc biệt, khả năng phân loại nội tuyến đáng tin cậy của nó, chẳng hạn như sự khác biệt giữa ‘đốm đen’ và các lỗ có vẻ tối, đảm bảo an toàn và tin cậy tối đa cho các sản phẩm của khách hàng. Kết quả là, các bài kiểm tra trong phòng thí nghiệm tốn kém và mất thời gian hầu hết đã lỗi thời.

Để biết thêm thông tin: www.isravision.com 

Tags: , , , , , , , ,