CT는 부품을 손상시키지 않고 내부 및 외부 치수를 동시에 측정하는 데 정확하고 신뢰할 수 있습니다. 재료 밀도의 추가 4차원을 통해 제공하는 통찰력은 품질 및 생산 부서에 필수 도구가 됩니다. 고전압 마이크로포커스 CT는 대형 부품을 측정하고 고밀도 재료를 관통하는 동일한 기능을 제공합니다. 이는 터빈 블레이드, 알루미늄 주물 및 기타 여러 상당한 부품을 위한 새로운 CT 응용 분야를 엽니다.

CT는 치수 검사, 재료 구조 및 조립 모두에서 사용하기 쉽고 빠르며 상세한 통찰력을 제공하는 솔루션을 제공합니다. 이러한 통찰력은 더 빠른 문제 해결과 더 효과적인 의사 결정으로 이어집니다. 생산 엔지니어링은 또한 더 저렴한 프로토타입이 필요하고 스크랩이 거의 또는 전혀 없습니다. 이는 제조 공정을 최적화하는 데 드는 비용과 시간을 모두 절약하여 생산성을 높이고 시장 출시 시간을 단축합니다.

X선관은 CT 시스템의 핵심입니다. 여러 다른 튜브 디자인이 존재하지만 기본적으로 X선 소스는 튜브 또는 실린더에 한쪽 끝에 필라멘트(전구를 생각함)가 있고 고전압 음극 및 양극, 자기 렌즈 및 금속 타겟으로 구성됩니다. (일반적으로 텅스텐). X선 소스는 개방형 또는 폐쇄형 튜브 소스입니다. Nikon Metrology는 사용자가 정기적으로 필라멘트를 교체할 수 있도록 자체 설계된 개방형 튜브 소스를 제공합니다. 일반적으로 폐쇄형 튜브 소스보다 소유 비용이 훨씬 낮습니다. 일반적으로 고장이 나면 교체해야 합니다. 비용.

필라멘트에 전류가 가해지면 필라멘트가 가열되어 전자가 방출됩니다. 전자는 음극에 의해 반발되고 고전압 필드에 의해 양극에 끌립니다. 이 필드는 전자를 튜브의 끝을 향해 빛의 속도의 80%까지 가속합니다. 튜브를 떠나기 전에 전자빔은 전자기 렌즈를 사용하여 대상 물질, 일반적으로 텅스텐에 초점을 맞춥니다. 전자는 목표물에 충돌하고 목표물과 상호 작용할 때 전자의 급격한 감속은 거의 가열됩니다. 실제로 그것은 전자빔의 99%가지 이상의 에너지에 일어나는 일입니다. 대상을 가열하는 것입니다. 1%보다 작으면 대상에서 원뿔 빔으로 생성되는 X선을 생성합니다.

이 X선은 전자빔이 목표물에 닿는 영역에서 방출됩니다. 일반적으로 인가되는 전압이 높을수록 빔에 더 많은 전력이 들어가고 결과적으로 더 많은 전력이 대상에 전달됩니다. 목표물에 더 많은 전력이 있을수록 X선 스폿 크기가 커지고 더 많은 X선 전력이 생성됩니다.

고전압 마이크로포커스 CT의 필요성

지금까지는 CT가 장점만 제공하는 것 같습니다. 그러나 함정은 어디에 있습니까? 많은 산업(금속) 물체에 대한 한 가지 중요한 제한은 재료의 밀도입니다. 밀도가 높은 샘플은 표에서 볼 수 있듯이 X선을 더 감쇠시킵니다.

많은 시스템 공급업체는 최대 225kV의 마이크로포커스 소스만 제공하는 반면 더 강력한 소스는 미니포커스입니다. Minifocus 소스는 더 많은 X선 플럭스를 생성하며 이는 훌륭하지만 이러한 minifocus 소스의 스폿 크기는 microfocus 소스에 비해 수십 배 더 커서 데이터의 정확도를 크게 떨어뜨립니다. 착각하지 마십시오. 대부분의 고정밀 산업용 CT 애플리케이션에 대해 정확하고 상세한 CT 데이터를 수집하려면 마이크로포커스 소스가 필요하며 공급업체의 사양 시트는 두 가지 유형의 소스를 구분하지 못할 수 있습니다. 표준 450kV 마이크로포커스 소스는 전력에 따라 80~320µm의 스폿 크기를 제공하며, 해당 미니포커스 소스보다 3~8배 작으며, 타의 추종을 불허하는 정확도와 분해능으로 소형 고밀도 부품 또는 알루미늄 주물 검사를 위한 업계 최고의 성능을 제공합니다. 사용자가 교체할 수 있는 필라멘트가 있는 개방형 튜브 디자인으로 인해 소스는 유지 보수 비용이 매우 낮고 수명이 거의 무제한입니다.

가장 까다로운 애플리케이션의 경우, 고휘도 버전은 측정 시간 제한 없이 450W 연속 전력을 제공하는 회전식 타겟을 활용하는 동시에 전력에 따라 80~113미크론의 작은 스폿 크기를 유지하며 미니 포커스보다 최대 10배 우수합니다. 원천. 표준 소스와 비교하여 고휘도 버전을 사용하면 주어진 스폿 크기 및 전력에 대해 일반적으로 3-5배 더 빠르게 데이터를 수집할 수 있습니다. 또는 주어진 전력 또는 측정 시간 동안 사용 가능한 해상도가 높아져 데이터 품질이 향상됩니다.